使用「側寫和記載」視景中的視圖來偵測和分析 Java™ 和 Java 2 Enterprise Edition (J2EE) 應用程式中的執行時期問題,如記憶體洩漏和效能與執行緒瓶頸,並識別出未經測試的程式碼。「側寫和記載」視景也包含 Probekit 特性,可讓您自訂應用程式執行時期行為的分析。
開始使用執行時期問題判斷
執行時期問題判斷「入門」一節提供收集側寫資料的基本步驟。其中包括選取側寫集的指示,該側寫集會收集您所需的資料,提供關於存取及使用對分析有幫助之視圖的進階資訊。分析記憶體洩漏
您可以在類別及物件層次上偵測記憶體管理問題, 方法是在應用程式執行時,收集資料堆傾出中的資料堆資訊, 然後比較資料堆傾出。這份比較識別出 Java 資料堆中所配置的記憶體變化,而且是產生最有可能之洩漏候選項清單的基準。偵測執行緒瓶頸
藉由在側寫時收集「執行緒分析」資料,您可以偵測應用程式中的執行緒瓶頸,包括執行緒競用和執行緒死結。競用會降低應用程式的效能,死結會造成執行中止。監視程式碼涵蓋面以偵測未經測試的指令行及方法
在側寫執行期間,您可以收集指令行及方法層次程式碼涵蓋面資料, 來判斷程式碼有哪些部分未執行。來自多重執行、多重應用程式和多重主機的資料不只會保留在個別檔案中,也會合併成為複合涵蓋面資料集。利用使用者定義的探針來收集執行時期資料
使用者定義的探針是您可以撰寫且可重複使用的 Java 程式碼片段,用來收集有關程式在執行時的詳細資訊。您可以將已編譯的探針插入程式碼中的各個位置,收集有關物件、實例變數、引數和異常狀況的執行時期資訊。日誌和追蹤分析器
「日誌和追蹤分析器」及「側寫工具」是開放程式碼資料收集和分析工具。通用日誌配接器
「通用日誌配接器」是開放程式碼組織架構,讓 Eclipse 外掛程式的程式設計師撰寫日誌剖析器,來轉換日誌檔成為 Common Base Event 格式。統計主控台
「統計主控台」提供使用者介面特性的延伸點,讓使用者收集資料到統計模型中。