收集指令行及方法的涵蓋面資料

透過收集側寫執行的資料來開始進行涵蓋面分析。

必備條件:

使用下列步驟來收集資料︰
  1. 在「側寫」對話框的「側寫」標籤(「概觀」子標籤)中,選取方法及指令行涵蓋面資訊側寫集。 (亦提供方法涵蓋面資訊側寫集,但是只收集方法層次的涵蓋面資料供顯示於「涵蓋面統計」視圖中。)
  2. 按一下側寫按鈕以啟動應用程式。
  3. 執行您要監視涵蓋面的應用程式部分。您現在可以終止應用程式。
    註: 如果要收集應用程式其他部分的涵蓋面資料, 請以相同方法再次側寫應用程式。在個別資料集中收集涵蓋面資料, 也會在「主機」層次及更高層次上與在之前的執行中所收集的資料自動合併。 若要顯示「主機」側寫資源,請開啟「側寫監視器」下拉功能表, 如果發現隱藏主機指令的前面有勾號, 請按一下此指令以移除勾號。 您現在可以開啟主機層次側寫資源的涵蓋面視圖。
附註:在限制資料收集與沖寫涵蓋面資料有時候很有用。如需詳細資訊,請參閱:

上層主題: 監視程式碼涵蓋面以偵測未經測試的指令行及方法

相關工作
檢視並分析指令行及方法的涵蓋面資料

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