收集效能資料

從收集側寫執行的執行時間分析資料來開始效能分析。

必備條件:

收集資料:
  1. 在「側寫」對話框的「側寫」標籤(「概觀」子標籤)中,選取執行歷程 - 完整效能呼叫圖形側寫集。
  2. 確認所有設定都正確:按一下編輯,然後在「編輯側寫集」對話框中執行下列動作:
    1. 確定有勾選時間分析執行時間分析的勾選框。
    2. 選取執行時間分析
    3. 選取顯示執行流程圖形詳細資料
    4. 您可以選擇是否收集實例層次資訊來顯示在「實例統計」視圖中, 此資訊用於研究記憶體回收。收集此資訊會使資料收集的過程變慢。
    5. 您可以選擇是否收集被過濾條件排除的界限類別, 以及如果要收集的話,是在什麼深度進行收集;對於詳細的追蹤分析來說,收集這些界限類別很有用。 收集此資訊會使資料收集的過程變慢。
    6. 您也可以同時選取其他側寫類型 (除了「洩漏偵測」側寫類型以外)來收集增補資料。 不過請注意收集愈多資料會使資料收集過程變慢。
    7. 按一下完成按鈕。
  3. 按一下側寫按鈕以啟動應用程式。
  4. 執行您要側寫之應用程式的部分。 現在,您可以終止您的應用程式。

附註:限制資料收集有時候很有用。如需詳細資訊,請參閱:

上層主題: 偵測效能瓶頸

相關工作
檢視並分析效能資料

相關參考
「執行時間分析」頁面(「編輯側寫集」對話框)

相關資訊
入門︰側寫 J2EE 應用程式

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