Associando um Registro de Defeito a um Registro de Log de Teste

Se você estiver utilizando o esquema Enterprise versão 7.0 do Rational ClearQuest, será possível utilizar a página Generated Defects de um registro de log de teste para associar um registro de defeito com um registro de log de teste. A associação é exibida na página Generated Defects de um registro de log de teste e na página Test Log de um registro de defeito.
Após a configuração de um registro de caso de teste ser executada, e os resultados de teste serem confirmados com o uso do Cliente Rational ClearQuest ou do Rational ClearQuest para Eclipse, é possível utilizar qualquer cliente do Rational ClearQuest para associar um registro de defeito ao registro de log de teste.
  1. No registro de log de teste associado ao caso de teste configurado executado, clique na página Generated Defects e clique em Add para incluir uma referência a um registro de defeito existente. (Note que é possível clicar em New para criar um registro de defeito a ser associado ao registro de log de teste).
  2. Utilize a janela Browse Record Type para localizar o registro de defeito que você deseja associar à execução de teste e clique em OK.
  3. Salve suas alterações para o registro de log de teste. A página Test Log do registro de defeito associado é atualizada para exibir o registro de log de teste associado.
Utilizando as consultas fornecidas pelo Rational ClearQuest, é possível rastrear as execuções de caso de teste configurado com a resolução de quaisquer defeitos associados.

Para obter informações adicionais sobre como criar uma associação de defeito a um TMTestLog quando você não estiver utilizando a versão 7.0 do esquema Enterprise, consulte Incluindo um TMTestLog e a Referência de Defeito em um Esquema.


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